KRAJŇÁK, T. Studium lokálně modifikovaných povrchů pro selektivní růst kobaltu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2017.
Bakalářská práce je zaměřena na popis a pochopení změn, ke kterým dochází na v povrchových vrstvách křemíkového substrátu exponovaného fokusovaným iontovým svazkem. Tomáš Krajňák se začal věnovat experimentální činnosti spojené s předkládanou prací již na konci 2. ročníku, přičemž využil období letních prázdnin k provedení prvních experimentů. Během 3. ročníku pracoval již samostatně. Bakalářská práce vyžadovala zvládnutí dvou odlišných a náročných experimentálních technik – přípravy vzorků pomocí fokusovaného iontového svazku a jejich analýzy pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie. Student přistupoval ke své práci odpovědně s vysokým nasazením a dosáhl výsledků, které pomohou pochopení růstu CoSi2 ostrůvků připravených na Si substrátu pomocí oxidem řízené epitaxe.
| Kritérium | Známka | Body | Slovní hodnocení |
|---|---|---|---|
| Splnění požadavků a cílů zadání | A | ||
| Postup a rozsah řešení, adekvátnost použitých metod | A | ||
| Vlastní přínos a originalita | B | ||
| Schopnost interpretovat dosažené vysledky a vyvozovat z nich závěry | B | ||
| Využitelnost výsledků v praxi nebo teorii | A | ||
| Logické uspořádání práce a formální náležitosti | A | ||
| Grafická, stylistická úprava a pravopis | B | ||
| Práce s literaturou včetně citací | B | ||
| Samostatnost studenta při zpracování tématu | A |
Cílem práce bylo experimentálně stanovit složení, tloušťku a modifikovat oxid křemíku pomocí Ga iontů a prozkoumat chování této vrstvy. Modifikovaná oxidová vrstva pak má sloužit k řízenému selektivnímu růstu kobaltových magnetických struktur. Práce se v teoretické části zabývá problematikou růstu vrstev a jejich analýzou metodami XPS a SEM. Je rozebrána i problematika fokusovaných iontových svazků. Kromě této teoretické části je v práci podrobně popsán a diskutován experiment založený na modifikaci povrchu křemíku pomocí různých dávek Ga iontů. Je zde stanovena ionty nemodifikovaná tloušťka oxidové vrstvy pomocí metody XPS. V modifikovaných oblastech tloušťka oxidu nebyla stanovena. Pomocí XPS byla měřena přítomnost Si, Ga a jejich oxidů v závislosti na teplotě. Změny teploty vyvolaly modifikace vazeb jednotlivých prvků a ty jsou podrobně diskutovány. Vzhledem k rozsahu experimentálních prací a podrobné diskuzi změřených dat, které jsou přehledně prezentovány, považuji tuto práci za zdařilou, doporučuji ji k obhajobě a navrhuji hodnocení stupněm A.
| Kritérium | Známka | Body | Slovní hodnocení |
|---|---|---|---|
| Splnění požadavků a cílů zadání | B | ||
| Postup a rozsah řešení, adekvátnost použitých metod | B | ||
| Vlastní přínos a originalita | A | ||
| Schopnost interpretovat dosaž. vysledky a vyvozovat z nich závěry | B | ||
| Využitelnost výsledků v praxi nebo teorii | A | ||
| Logické uspořádání práce a formální náležitosti | A | ||
| Grafická, stylistická úprava a pravopis | A | ||
| Práce s literaturou včetně citací | A |
eVSKP id 101567