KRUPA, M. Skener rastrovací sondové mikroskopie s vysokou rezonanční frekvencí [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2022.

Posudek vedoucího

Pavera, Michal

Pan Matyáš Krupa se ve své bakalářské práci věnuje mechanickému návrhu a simulacím piezoskeneru. Práce je rozdělena do tří částí. V první jsou popsány teoretické základy mikroskopie atomárních sil, která je motivací při vývoji nového skeneru. Navržený skener by měl umožňovat vyšších rastrovacích rychlostí při zachování stejné kvality snímku. Další část je zaměřena na rešeršní studii piezoskenerů a jejich typů. Kapitola obsahuje všechny potřebné náležitosti, přesto pro svou stručnost můžou být některé informace pro čtenáře nejasné. Například z podkapitoly o rychlosti skenování není zcela jasná nutnost vysoké rychlosti v ose z. Třetí část obsahuje konkrétní mechanické návrhy a simulace piezoskeneru, které byly prováděny v systému Autodesk Inventor a Ansys. Ovládání programových nástrojů si autor zcela osvojil a v tomto ohledu je nutné vyzvednout jeho samostatnost. Třetí část práce je poměrně obsáhlá, přesto také postrádá některé důležité detaily. Například chybí detailnější popis ohybového mechanismů piezoskeneru, způsob uložení jednotlivých piez, technologické omezení výroby a parametry simulací. Text práce je logicky poskládaný, obsahuje však řadu překlepů a stylistických chyb. U obrázku 1.1 je chybně uvedená reference. Na obrázku 1.2 není označená osa. Obrázky simulací jsou malé, většinou neobsahují měřítko a hodnoty barevné škály jsou nečitelné. Jednotky v tabulkách jsou uzavřeny do hranatých závorek. Text ještě obsahuje další řadu drobných chyb, jako je například špatné použití fontů (označení os na str. 23), tečky místo čárek v jednotkách, nebo umístění jednopísmenných předložek na konci řádků. Přes řadu výtek považuji předkládanou práci za kvalitní s velkým potenciálem využití nabytých znalostí v praxi. Práci hodnotím za B a doporučuji k obhajobě.

Posudek oponenta

Dostál, Zbyněk

Bakalářská práce Matyáše Krupy se věnuje návrhu a simulacím piezoskenerů pro rastrovací sondový mikroskop. Práce je členěna do tří hlavních částí. V prvé je popsán princip mikroskopie atomárních sil, v druhé jsou popsány principy skenerů, jejich konstrukce a také princip činnosti piezoelementů. Stěžejním textem práce je třetí část, kde je popsána konstrukce a simulace funkce skeneru. Je nezávisle řešen skener pro pohyb v osách x - y a pak skener pro osu z. Pro potřeby práce student zvolil analýzu pomocí FEM nástrojů programů Ansys a Autodesk Inventor. V těchto programech je simulována jak deformace skenerů, tak i jejich rezonanční frekvence. Tyto parametry jsou laděny pomocí rozměrů deformovatelných částí skenerů. Práce, kterou student odvedl je dobrá a simulace se zdají být dobře provedené. Nicméně text práce kazí několik věcí. Například není před simulacemi dobře popsána činnost skenerů. Bylo by dobré začátek praktické části doplnit koncepční a kinematickou ideou navrhovaných mechanismů, zmínit, který piezoelement pohybuje jakou osou mechanismu a pod. U simulací není řešena velikost sítě, její zjemnění v oblasti pružných kloubů a její vliv na výsledky. U obrázků simulací a modelů by bylo dobré vyznačit směry x a y. Text je tak hůře čitelný a pochopitelný. A kazí jej formální i jazykové chyby. U obrázku 1.1 není uvedena reference, u popisu vzorce 1.1 není použit matematický font pro veličiny, podobně pak na obrázku 1.2. Na koncích řádků se vyskytují jednoslabičné předložky. V práci vyskytují i věty, které jsou (díky překlepu či chybějícímu větnému předmětu) obsahově chybné či matoucí. Např.: " V této chvíli se ještě jedná a izotropní polykrystal a natočení jednotlivých dipólů je obecně libovolné, materiál tedy nevykazuje (či vykazuje pouze slabě) piezoelektrické vlastnosti (obrázek 2.2a)." Práci hodnotím kladně, i když text, ve kterém student svoji práci popisuje, má nedostatky. Z provedených simulací student správně vyhodnotil potřebné rozměrové parametry pro skenery pro osy x, y i z. Práci hodnotím jako dobrou - C.

eVSKP id 139597