Metody pro testování analogových obvodů
Loading...
Date
Authors
Kincl, Zdeněk
ORCID
Advisor
Referee
Mark
P
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract
Práce se zabývá metodami pro testování lineárních analogových obvodů v kmitočtové oblasti. Cílem je navrhnout efektivní metody pro automatické generování testovacího plánu. Snížením počtu měření a výpočetní náročnosti lze výrazně snížit náklady za testování. Práce se zabývá multifrekveční parametrickou poruchovou analýzou, která byla plně implementována do programu Matlab. Vhodnou volbou testovacích kmitočtů lze potlačit chyby měření a chyby způsobené výrobními tolerancemi obvodových prvků. Navržené metody pro optimální volbu kmitočtů byly statisticky ověřeny metodou MonteCarlo. Pro zvýšení přesnosti a snížení výpočetní náročnosti poruchové analýzy byly vyvinuty postupy založené na metodě nejmenších čtverců a přibližné symbolické analýze.
The thesis deals with methods for testing of linear analog circuits in the frequency domain. The goal is to develop new efficient methods for automatic test plan generation. To reduce test costs a minimum number of measurements as well as less computational demands are the fundamental aims. The thesis is focused on the multi-frequency parametric fault diagnosis which was fully implemented in the Matlab program. The fundamental problem consists in selection of test frequencies which can reduce the influences of measurement errors and errors caused by tolerances of well-working components. The proposed methods for test frequency selection were statistically verified by the MonteCarlo method. To improve the accuracy and reduce the computational complexity of fault diagnosis, the methods based on least-square techniques and approximate symbolic analysis were presented.
The thesis deals with methods for testing of linear analog circuits in the frequency domain. The goal is to develop new efficient methods for automatic test plan generation. To reduce test costs a minimum number of measurements as well as less computational demands are the fundamental aims. The thesis is focused on the multi-frequency parametric fault diagnosis which was fully implemented in the Matlab program. The fundamental problem consists in selection of test frequencies which can reduce the influences of measurement errors and errors caused by tolerances of well-working components. The proposed methods for test frequency selection were statistically verified by the MonteCarlo method. To improve the accuracy and reduce the computational complexity of fault diagnosis, the methods based on least-square techniques and approximate symbolic analysis were presented.
Description
Keywords
Analogové obvody, automatické generování testovacího plánu, analýza testovatelnosti, návrh pro snadnou testovatelnost, modelování poruch, multifrekvenční parametrická poruchová analýza, volba testovacích kmitočtů, přeurčená soustava rovnic, přibližná symbolická analýza, redukce parametrů, ATPG, DfT., Analog circuits, automatic test pattern generation, testability analysis, design for testability, fault modelling, multi-frequency parametric fault diagnosis, test frequency selection, overdetermined system, approximate symbolic analysis, parameter reduction, ATPG, DfT.
Citation
KINCL, Z. Metody pro testování analogových obvodů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2013.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
en
Study field
Elektronika a sdělovací technika
Comittee
prof. Ing. Aleš Prokeš, Ph.D. (předseda)
prof. Ing. Dalibor Biolek, CSc. (člen)
doc. Dr. Ing. Pavel Horský (člen)
prof. Ing. Jiří Mišurec, CSc. (člen)
prof. Ing. Miroslav Husák, CSc. - oponent (člen)
prof. Ing. Čestmír Vlček, CSc. - oponent (člen)
Date of acceptance
2013-12-12
Defence
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení