Studium homogenity tenkých vrstev organických materiálů

Abstract

Tato diplomová práce se zabývá studiem homogenity tenkých organických vrstev s použitím obrazové analýzy. V teoretické části se zabývá přípravou tenkých vrstev a metodami zkoumajícími jejich povrch zejména optickou mikroskopií a profilometrií. Pro studium homogenity vrstev obrazovou analýzou byl použit optický mikroskop NIKON ECLIPSE E200, digitální fotoaparát NIKON 5400 a počítač. Byly zkoumány obrazy organických vrstev a jednotlivých elektrod, které byly na organickou vrstvu napařeny. Homogenity povrchů vrstev byly hodnoceny pomocí chyb souvisejících s obecnými momenty (průměrnou nerovností, střední kvadratickou odchylkou, šikmostí, špičatostí). V závěru práce jsou diskutovány rozdíly mezi jednotlivými vzorky v souvislosti s velikostí jejich obecných momentů a homogenitou.This thesis deals with study homogeneity of thin organic layers using image analysis. The theoretical parts deal with preparation thin layers and some methods examining their surface, especially optical microscopy and profilometry. Optical microscope NIKON ECLIPSE E200, digital camera NIKON 5400 and computer was used for study homogeneity of organic layers by image analysis. Images of the organic layer and single electrodes, which were steamed on organic layer, were surveyed. Homogeneity of surfaces layers was assessed by errors related with common moments (roughness average, root mean square roughness, skewness, and kurtosis). Differences between single samples in connection with size their common moments and homogeneity are discussed at the close of this work.