Elektromigrace tavidlových zbytků na povrchu DPS

Abstract

Diplomová práce seznamuje s problematikou elektromigrace, tavidel a tavidlových zbytků. Obsahuje návrh metody měření povrchového izolačního odporu, informace o vybraných typech tavidel. Zaměřuje se na vliv teploty, vlhkosti a frekvence. Práce popisuje praktické měření rezistivity i ionizovatelných nečistot tavidlem kontaminovaného SIR obrazce na DPS. Je použita konduktometrická metoda a metoda měření SIR dle IPC-25-B a sledován vliv vlhkosti, teploty a přiloženého napětí na změnu povrchového izolačního odporu. V závěru jsou dosažené výsledky diskutovány.Diploma thesis introduces the problems of electromigration, fluxes and flux residues. It includes a proposal for methods of measuring surface insulation resistance, information about selected types of fluxes and conformal coatings. It focuses on the influence of temperature, humidity. There are applied conductometric method and method of measuring SIR by IPC-25-B. The thesis describes the practical measurement of SIR and ionic contamination of PCB covered with flux and influence of RH, temperature and applied voltage is evaluated and discussed.