Systém Hefaistos

Abstract

Tato diplomová práce se zabývá popisem měřicího systému Hefaistos. Je zde popsán princip tohoto systému, který je plně automatizovaný a modulární. Účelem systému je měření frekvenčních teplotních závislostí materiálů. Hlavní součástí systému je řídicí aplikace vytvořená ve vývojovém prostředí LabVIEW. Další nedílnou součástí jsou impedanční analyzátory pro měření frekvenčních charakteristik a teplotní komory pro ohřev měřené komponenty. Řídicí aplikace zajišťuje synchronizaci hardwaru, čímž spojuje impedanční analyzátor s teplotní komorou, a tvoří tak měřicí systém Hefaistos. Modularita systému znamená, že je v rámci jedné řídicí aplikace možnost volby různých kombinací měřicích přístrojů. Na výběr jsou impedanční analyzátory Agilent 4294A, Wayne Kerr 6520B a HIOKI 3532 LCR Hi-Tester a teplotní komory AOIP GEMINI 700 LRI a AOIP HYPERION. Část práce se věnuje popisu přístrojů a jejich možnostem programování. Možnosti systému Hefaistos jsou demonstrovány na výsledcích ukázkového měření.This master's thesis describes functionality and principle of the Hefaistos measurement system, which is fully automated and modular. Its purpose is to measure frequency responses of materials and its temperature dependence. The thesis describes all the necessary parts of the modular measurement system. Main part of this system is the control application programmed in LabVIEW software environment. Another necessary parts are impedance analyzers for acquiring frequency dependencies and heating chambers for heating measured materials. The control application ensures hardware synchronization between impedance analyzers and heating chambers. Together they create the Hefaistos system. Modularity of the system means that a user may choose which instrument combination will be used. The system offers choice between three impedance analyzers Agilent 4294A, Wayne Kerr 6520B and HIOKI 3532 LCR Hi-Tester and two heating chambers AOIP GEMINI 700 LRI and AOIP HYPERION. Possibilities of the Hefaistos system are demonstrated on the results of an example measurement.