Studium faktorů ovlivňujících dobu ustálení elektrického proudu při měření malých proudů tranzistorem
Loading...
Date
Authors
Ježík, Jan
Advisor
Referee
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
ORCID
Abstract
Tato práce se zabývá vlivem dielektrické relaxace na dobu ustálení velmi malého stejnosměrného proudu po připojení měřicího napětí velikosti až 600 V. Jsou diskutovány různé relaxační děje probíhající v dielektrických materiálech vystavených působení elektrického pole. Pomocí metody dielektrické relaxační spektroskopie ve frekvenční i časové oblasti jsou vyhodnoceny vlastnosti tří základních materiálů desek plošných spojů za účelem navržení toho nejvhodnějšího pro konstrukci vysokorychlostního testeru UNISPOT S40 ACCEL.
This study is engaged in the effect of dielectric relaxation on very small direct current setting time after applying voltage of 600 V. Several relaxation phenomenons in dielectric materials stressed by electric field are discussed. Characteristics of three substrates of PCBs are evaluated by using time and frequency domain dielectric relaxation spectroscopy in order to find an optimal material for high speed tester UNISPOT S40 ACCEL construction.
This study is engaged in the effect of dielectric relaxation on very small direct current setting time after applying voltage of 600 V. Several relaxation phenomenons in dielectric materials stressed by electric field are discussed. Characteristics of three substrates of PCBs are evaluated by using time and frequency domain dielectric relaxation spectroscopy in order to find an optimal material for high speed tester UNISPOT S40 ACCEL construction.
Description
Citation
JEŽÍK, J. Studium faktorů ovlivňujících dobu ustálení elektrického proudu při měření malých proudů tranzistorem [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2009.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Mikroelektronika a technologie
Comittee
doc. Ing. František Vaníček, CSc. (předseda)
doc. Ing. Lukáš Fujcik, Ph.D. (místopředseda)
Ing. Jiří Kubelka (člen)
doc. Ing. Jiří Háze, Ph.D. (člen)
Ing. Martin Frk, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2009-06-11
Defence
Bakalář seznámil zkušební komisi s řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky komise.
Otázky u obhajoby:
1.) Jak předpokládáte, že by se změnily naměřené výsledky, pokud by jste měl k dispozici kvalitnější měřící vybavení?
2.) Znáte nějaký materiál, který by byl pro konstrukci měřící desky nejvhodnější (bez ohledu na jeho dostupnost)?
3.) Na jakém přístroji jste měřil průběhy v časové oblasti?
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena