NOVÉ PRINCIPY CHARAKTERIZACE HRADLOVÝCH KAPACIT PRO SIGMA-DELTA MODULÁTORY - Sutorý, Tomáš (Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií, 2009)
V předkládané disertační práci se autor zabývá využitím nových způsobů charakterizace hradlových kapacit použitelných pro realizaci sigma-delta modulátorů, jež jsou nedílnou součástí sigma-delta analogově digitálních převodníků. Navržená nová metoda charakterizace se vyznačuje vysokým rozlišením a nenáročností na vybavení měřicího pracoviště. Umožňuje rovněž charakterizaci v rozsahu kapacit používaných v sigma-delta modulátorech. Práce obsahuje jak popis vlastní metody, tak rozbor přesnosti měření a rovněž výsledky experimentů.

This thesis deals with the utilization of new principles of characterization of gate capacitances for sigma-delta modulators. Sigma-delta modulators are the integral part of sigma-delta analog-to-digital converters. The proposed new method is characterized by high resolution and modest requirements for laboratory equipment. It allows characterizing capacitances whose values are within the range which is used in sigma-delta modulators. The thesis contains description of the new method, the analysis of measurement accuracy and experimental results.
NEW PRINCIPLES OF GATE CAPACITANCE CHARACTERIZATION FOR SIGMA-DELTA MODULATORS
Keywords: Sigma-delta modulátor; technologie CMOS; MOS kondenzátor; nelineární kondenzátor; napěťová závislost; Q-U charakteristika; linearizace; charakterizace; CBCM metoda; měření kapacity; přesnost měření; sériová a paralelní kompenzace; stejnosměrné předpětí; výrobní masky; testovací čip; proudový mód; spínané kondenzátory; spínané proudy.; Delta-Sigma modulator; CMOS technology; MOS capacitor; non-linear capacitor; voltage dependency; Q-V characteristic; linearization; characterization; CBCM method; capacitance measurement; measurement accuracy; serial and parallel compensation; DC bias; productive masks; test-chip; current mode; switched capacitors; switched currents.