VÁLEK, L. Microdefects in Czochralski Silicon [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2012.

Posudek vedoucího

Spousta, Jiří

Posudek oponenta

Fejfar, Antonín

Mikulík, Petr

eVSKP id 61911