ROZBOUD, J. Poloautomatické pracoviště pro měření vlastností elektronických obvodů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2023.
Student prostudoval problematiku realizace poloautomatizovaného pracoviště pro měření vlastností elektronických obvodů. K řešení práce přistupoval svědomitě a pravidelně konzultoval. Student se v průběhu realizace práce aktivně zúčastnil semináře, který úzce souvisel se zadanou problematikou. Podařilo se mu tedy úspěšně realizovat pracoviště pro měření vlastností integrovaného obvodu FGIC44, který byl vyvinut na ústavu telekomunikací. Student mohl hlouběji prostudovat vlastnosti čipu a navrhnout další typy měření (např. měření dynamického rozsahu). Přínosem práce je tedy vypracované pracoviště v programovém prostředí Keysight VEE pro několik druhů měření. Student pomocí vytvořeného programu změřil vlastnosti několika čipů. Získané výsledky zpracoval graficky a provedl aktualizaci poskytnutého datasheetu o nové naměřené hodnoty. Práce obsahuje typografické chyby a překlepy. Student mohl více zdůvodnit chyby naměřených výsledků, které jsou v některých případech velké. Případně se mohl pokusit tyto chyby eliminovat. Zadání práce považuji za splněné a navrhuji známku B, 80 bodů.
Předložená bakalářská práce působí dojmem velmi spěšného vytvoření. V práci je celá řada překlepů, pravopisných i faktických chyb, jako je např. použití chybných jednotek, špatné použití matematických symbolů, nesprávně popsané osy některých grafů či nevhodně formulované věty. Student měl v zadání stanoveno měření pěti vzorků čipu FGIC4, avšak v práci je uvedeno měření pouze za jeden čip a měření za další 3 je pak prezentováno jen velmi stručně v příloze práce. Student v některých případech dospěl k mylným závěrům (např. při posuzování křivek v grafu na obr. 4.21). Z popisu měřicích programů v Agilent VEE nejsou zřejmé některé podstatné informace, jako např. přesný postup použitý pro kalibraci při AC a impedančním měření. U řady grafů pak chybí dostatečné vysvětlení toho, co které křivky v grafu reprezentují a co z toho případně vyplývá. Stejně tak není v textu uvedena řada klíčových parametrů, které mají na obdržené výsledky významný vliv, jako např. nastavení zdroje při AC či impedančním měření. Použité parametry lze vyčíst z ilustrujících obrázků, avšak zcela chybí jejich diskuze či dokonce možnost jejich nastavení z GUI. V některých případech je pak patrné, že při měření byl na plošném spoji špatný kontakt (např. jedna z červených křivek v obr. 4 a) přílohy), což měl student před zařazením výsledků do své práce opravit. Za slabinu také považuji skutečnost, že student velmi málo popisuje logický postup v rámci navržených měřicích programů (chybí vývojové diagramy). Dosažené výsledky jsou však přes výše uvedené výhrady částečně použitelné a realizované programy ve své podstatě fungují, byť s řadou omezení. Z hlediska práce s literaturou nemám žádné výhrady. Vzhledem k výše uvedenému navrhuji hodnocení D/60 bodů.
eVSKP id 151073