BAČOVSKÝ, J. Aberration Corrector for an Exclusively Low-Voltage Electron Microscopy [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2021.

Posudek vedoucího

Kolařík, Vladimír

viz. posudek v pdf.

Posudek oponenta

Radlička, Tomáš

viz. posudek v pdf.

Vašina, Radovan

viz. posudek v pdf.

eVSKP id 137753