MÜLLER, P. Lokální charakterizace elektronických součástek [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2010.

Posudek vedoucího

Tománek, Pavel

Pan Pavel Müller pracoval na své diplomové práci dosti usilovně od školního roku 2008/09. Téma pro něj i pro mne bylo zcela nové, které se jevilo aktuální z hlediska charakterizace moderních elektronických součástek, a jak se v průběhu prvního roku ukázalo jako téměř neprozkoumané. Existuje množství publikací, které se zabývají elektrickými či materiálovými charakteristikami pasivních elektronických součástek, charakteristikami, které mají vliv na kvalitu, spolehlivost a životnost součástek. Prakticky však neexistuje literatura, která by zkoumala vlastnosti součástek optickým způsobem, protože optický kontrast může přinést informace o dalších, dosud nepostižitelných vlastnostech součástek. K dosažení plánovaného cíle musel prostudovat dosti značný počet publikací, většinou v angličtině, které se jen okrajově dotýkaly dané problematiky, ale přinesly značné poznatky obecné, které také v průběhu práce zapracoval do své diplomové práce. Vysoce sofistikovaná mikroskopie v blízkém poli, ať již AFM nebo SNOM, umožňuje získat informace o detailech, které jsou srovnatelné či menší než vlnové délka světla. Takže diplomová práce se zabývala změnami základních charakteristik světla v případě odraženého světla. Řešitel plnil požadavky tohoto experimentálně náročného úkolu velmi svědomitě. Z teoretického hlediska se velmi dobře v dané problematice orientoval, získal slušný přehled týkající se fyzikálního obsahu, existujících měřicích metod i praktických aplikací. Prokázal samostatnost při návrhu i částečném konstrukčním řešení experimentálního pracoviště. Při zpracování vycházel z již existujícího, na našem pracovišti používaného měřicího systému, ten přizpůsobil konkrétním vzorkům. Práce je přehledně uspořádána do 9 kapitol. Současný stav problematiky, měření na kondenzátorech, přehled mikroskopů se speciálním zřetelem na skenovacím mikroskopu s lokální sondou zabírají větší část práce, protože to vše bylo pro diplomanta nové. Jádrem práce je sedmá kapitola, která přináší výsledky měření. V první části kapitoly je demonstrován potenciál, jaký je možné dosáhnout. Druhá část se věnuje měření na vzorku multivrstvového deskového keramického kondenzátoru a v poslední části je popsáno měření elektricky poškozeného tantalového elektrolytického kondenzátoru za účelem případného odhalení změny struktury dielektrika vlivem jeho proražení. Osmá kapitola obsahuje závěr s uvedenými možnostmi použití testovaných metod a shrnutím jejich výhod a nevýhod. V deváté kapitole je uvedena použitá literatura a zdroje. Diplomová práce je zpracována na velmi dobré úrovni po stránce formální i grafické, rozsah práce je v limitu požadovaného rozsahu. V průběhu práce na projektu publikoval 1 článek na konferenci STUDENT EEICT 2010, který se týkal některých aspektů této problematiky: 1. MÜLLER, P. Skenovaní optická mikroskopie v blízkém poli jako nástroj lokální charakterizace elektronických součástek. In Proceedings of the 16th Conference STUDENT EEICT 2010, vol. 2. 1. Brno: Novpress, s.r.o, 2010. s. 195-197. ISBN: 978-80-214-4077- 7 Zadání diplomové práce je bezezbytku splněno. Diplomant se pohyboval na hraně nejmodernějších technologií, o kterých bohužel existuje jen velmi málo dostupných informací. Bohužel se nepodařilo objevit vhodný defekt malých rozměrů v materiálu, který by bylo možné pomocí mikroskopu dostatečně detailně prostudovat. Ale to už je problematika sahající nad rámec diplomové práce. Vyvíjená měřicí metodika i její experimentální ověření vykazují původní přínosné části, které je možné dále rozpracovávat. Z výsledků práce bude připravena jedna časopisecká publikace. Navíc o pokračování této práce projevili výrazný zájem představitelé AVX Česká republika.

Posudek oponenta

Škarvada, Pavel

Diplomová práce Bc. Pavla Müllera je zaměřena na lokální charakterizaci elektronických součástek. V rámci praktického měření byly z možných vzorků vybrány pouze kondenzátory. Vybrané vzorky tantalových a keramických kondenzátorů obsahujících defekty byly po potřebné přípravě charakterizovány s využitím AFM a SNOM. Defektnost vzorků byla testována s využitím elektrického měření. Diplomová práce má 60 stran včetně obrázků a tabulek. Je členěna do úvodu, 7 kapitol a závěru. V úvodu diplomant rozebírá aktuálnost tématu a nutnost charakterizace součástek. Vlastní práci je možné rozdělit do dvou celků. V první popisné části diplomant popisuje různé metody charakterizace aplikovatelné na vybrané vzorky. Techniky, které byly použity pro vlastní charakterizaci, jsou dostatečně popsány. Druhá část obsahuje výsledky experimentálního měření. V závěru jsou shrnuty použité techniky a diskutovány dosažené výsledky. Student splnil požadavky kladené zadáním odpovídajícím způsobem. Pouze v experimentální části práce bych očekával prezentaci elektrických měření jednotlivých vzorků. Odborná úroveň práce je vyhovující. Interpretace výsledků a jejich diskuse by dle mého názoru měla být větší částí obsažena ve zvláštní kapitole spíše než v závěru. Po formální stránce je práce až na několik překlepů vyhovující. Pozitivně vnímám relativně velký počet citované literatury (39) z větší části cizojazyčné a aktivní účast diplomanta na EEICT 2010.

eVSKP id 32160