KRŠŇÁK, J. Teplotní stabilita naprašovaných vrstev oxidu yttria [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2009.

Posudek vedoucího

Hégr, Ondřej

Student zpracovával práci zabývající se teplotní odolností naprašovaných vrstev oxidu yttria. Hlavním úkolem byla experimentální depozice Y2O3 vybraných tlouštěk a ověření jejich stability po teplotním namáháním. Jako diagnostická metoda byla vybrána elektronová mikroskopie. Stanovené cíle byly z většiny splněny v závislosti na možnostech spolupracujících institucí (Solartec s.r.o., ZČU Plzeň, UPT Brno). Během zpracování práce byla však zcela nedostačující aktivita studenta a to jak ve fázi naprašování nebo diagnostiky vrstev, tak i ve fázi konzultací s vedoucím práce. Lepších výsledků student dosáhl při samotném zpracování bakalářské práce. Zvláště anglické překlady odborného textu jsou na velmi dobré úrovni. Grafické zpracování práce je velmi dobré. Z hlediska popisu a diskuze zpracovávaných výsledků by některé kapitoly zasloužily více pozornosti a odborného přístupu. Student pracoval se zadanou literaturou, kde jsou zastoupeny jak knižní publikace, tak informace z internetu. Literatura je uvedena na konci práce, je na ni odkazováno v teoretické části práce.

Posudek oponenta

Boušek, Jaroslav

Poměr jednotlivých částí předložené práce je vyvážený a po grafické stránce je práce provedena pečlivě. Text práce je však velmi stručný a nevystihuje plně její tématiku. Po krátkém úvodu je v kapitole "2 Materiál Y2O3 a je jeho vlastnosti" prezentován přehled optických vlastností Y2O3 a jsou zde také zmíněny technologie jeho depozice. Následuje kapitola ""3 Magnetronové naprašování", kde je, v souladu se zaměřením práce nejvíce prostoru věnováno vyskofrekvenčnímu naprašování. Text této kapitoly však měl být sestaven s větší pozorností a především měly být některé pasáže z převzatého textu upraveny případně doplněny z více pramenů (viz například první odstavec na str.14.). V kapitole "4 Elektronový mikroskop, rastrovací elektronová mikroskopie (SEM)" jsou popsány principy elektronové rastrovací mikroskopie. Je zde i krátký přehled doprovodných jevů. Důraz je kladen především na nabíjení nevodivých vzorků při rastrování elektronovým svazkem a jsou také uvedeny možnosti jak toto nabíjení při různých konstrukcích mikroskopů a při různých režimech rastrování potlačit. Těžiště práce je na stranách 24 až 43 v kapitole "5 Příprava vrstev Y2O3" a v kapitole "6 Diagnostika vrstev". Je zde stručný popis naprašovací aparatury, popis vsázkové pece a je uveden přehled parametrů depozice. Náplní kapitoly 6 je prezentace fotografií z konfokálního mikroskopu a z elektronového rastrovacího mikroskopu. Na základě těchto fotografií je provedeno i vyhodnocení vlivu teplotního namáhání vzorků. V obou kapitolách postrádám hlubší rozbor dané problematiky, vyvození podrobnějších závěrů z výsledků testování a především uvedení podílu autora práce na prezentovaných výsledcích. Přes uvedené nedostatky je však nutné konstatovat že práce byla vypracována v souladu se zadáním a že zadání práce, odborně i časově poměrně náročné, bylo splněno.

eVSKP id 22424