VAVROUŠEK, D. Automatická analýza dat nízkoenergiové elektronové mikroskopie [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2025.
David Vavroušek ve své bakalářské práci řešil problematiku obrazového zpracování dat získaných nízkoenergiovou elektronovou mikroskopií (LEEM), zejména odstraňování nežádoucího pozadí v difrakčních obrazech metodou rolling ball a flatfield korekcí obrazů v reálném prostoru. Po obecném úvodu do mikroskopie byla podrobně rozebrána metoda LEEM, což považuji za velmi pozitivní, zvláště s ohledem na minimální zkušenosti studenta s touto metodou. V teoretické části práce byla také řešena problematika odstraňování nežádoucího pozadí v měřených snímcích. Hlavním cílem praktické části bakalářské práce bylo vytvořit uživatelsky přívětivý software, který umožní snadné načítání a zpracování dat pořízených přímo elektronovým mikroskopem, zejména pak odstraňování pozadí v obrazech z reálného a reciprokého prostoru. Student tento program vytvořil v jazyce C# za použití technologie WPF (Windows Presentation Foundation) a prokázal vynikající schopnost prakticky aplikovat nové znalosti a pracovat samostatně. I přes komplexní zadání byly splněny téměř všechny cíle. Výjimku tvořil bod 5) Sesazování obrazů z temného pole, který byl vzhledem ke složitosti a časovému rozsahu implementován pouze do grafického rozhraní. V tomto ohledu se však student při psaní kódu naučil používat vzor MVVM (Model-View-ViewModel), který umožňuje budoucí rozšíření a snadné doplnění funkcionality programu. Toto rozšíření je rozsahově spíše na diplomovou práci a uvítám, pokud na něm bude student pokračovat. Text bakalářské práce je místy zbytečně komplikovaný a obsahuje nadbytečné informace, což se projevuje na její srozumitelnosti. V některých případech (například u flatfield korekce) není jasné, jakým způsoben byly korekce do programu implementovány. I přes tuto výtku však, vzhledem k celkovému přístupu studenta k danému tématu, hodnotím bakalářskou práci jako výbornou (známkou A, 95 bodů).
Student se v rámci předložené bakalářské práce zabýval vývojem softwaru pro korekci snímků získaných metodami nízkoenergiové elektronové mikroskopie (LEEM) a difrakce (LEED) a aplikací softwaru na vybraná experimentální data. V úvodní kapitole je obstojně popsána experimentální metoda LEEM z hlediska konstrukce, principu tvorby obrazu a jeho případných vad. V kapitolách 2 a 3 se pak student věnuje metodám, které jsou v současnosti používány pro zpracování obrazu. Zde je třeba poznamenat, že byť je tato teoretická část práce napsána relativně čtivě, tak působí na čtenáře poněkud prázdně, především v kapitole 2, která obsahuje mnoho obecností. S postupujícím textem míří předložená práce více k věcnosti a jistou bezobsažnost se daří krotit. To se týká především kapitol 4 a 5, kde se student věnuje samotnému návrhu a vývoji softwaru. Vytvořený software poskytuje nástroje pro filtraci sekundárních elektronů z difrakčních obrazců a odstranění pozadí v obrazech reálného prostoru. Volba testovaných metod a zhodnocení jejich účinnosti je však mnohdy diskutabilní. Ocenil bych rovněž hlubší diskusi přípustných hodnot uživatelem zadaných parametrů a jejich vlivu na výsledek. Největší problém však spatřuji ve způsobu implementace flat-field korekce podle vztahu 5.5, který nedává logiku a při obecném použití neposkytne smysluplnou korekci. V programu také zcela absentuje funkce barevného sesazení obrazů temného pole, přestože je jedním z požadavků zadání. Co se textu práce týče, je dobře logicky členěn. Odstavce jsou vhodně strukturovány, objevují se však jisté typografické nedostatky. Gramatické chyby a překlepy jsou sporadické. Na druhou stranu je třeba vytknout jisté nepřesnosti a někdy i věcné chyby při popisu použitých experimentálních a matematických metod. Některé formulace jsou pak velmi matoucí a v jistých ohledech zavádějící. Rovněž práce s citacemi není vždy zcela korektní, přestože autor používá vesměs relevantní a aktuální literaturu. I přes zmíněné výtky považuji úroveň práce za uspokojivou a doporučuji ji k obhajobě. Celkové hodnocení: 75 bodů / C (podle ECTS).
eVSKP id 167481