TRCHALÍK, M. Návrh a realizace pracoviště pro měření šumu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2025.
Student Miroslav Trchalík se svědomitě během semestru věnoval bakalářské práci a pravidelně chodil na konzultace. Prostudoval teorii různých typů šumu a provedl jejich simulaci v programu Matlab. Dále dle dostupné literatury a pramenů provedl návrh filtru pro měření nízkofrekvenčního šumu z hlediska jeho minimálního vlastního šumu, což nebývá příliš obvyklý postup. Jeho návrh je následně lepší jak známá zapojení. Vybral nejlepší současné OZ pro realizaci a na klíčové pozice použil nízkošumové JFET tranzistory. U měření šumu ve spektrální oblasti je připravena možnost korelačního měření pro odstranění vlivu následného zesilovače. Provedl návrh DPS a zapojení přípravku včetně mechanické konstrukce realizoval. Vybral vhodné nízkošumové stabilizátory a bateriové napájení. Proměřil kmitočtové vlastnosti navrženého řetězce a pro vzorové OZ provedl měření vstupního šumového napětí i proudu, které souhlasí s údaji výrobce. Po formální stránce je práce velmi pěkná a dobře pracuje s dostupnou literaturou. Celkově jsem s prací velmi spokojen a navrhuji hodnocení A/97B.
V úvodu bakalářské práce student Miroslav Trchalík přehledně zpracoval teorii šumových jevů v elektronických součástkách s použitím poměrně širokého souboru zdrojů. Následně provedl návrh experimentálního přípravku pro měření šumových parametrů operačních zesilovačů a unipolárních tranzistorů. Navržený přípravek zkonstruoval včetně mechanické krycí části a rozhraní pro připojení přístrojů. Měřením ověřil vynikající funkčnost přípravku. Dosažené parametry jsou unikátní což vyplývá z porovnání s publikovanými výsledky referenčních řešení od nejvýznamnějších výrobců elektronických obvodů. Návrh řešení a provedení tak hodnotím výborně. Zadání práce nebylo splněno beze zbytku, nicméně to není na úkor kvality výsledků. Na základě provedených prací se mi jeví, že jisté části zadání nejsou pro potřeby řešení nezbytné. Například požadavek na ovládání přípravku z automatizovaného prostředí. V současné podobě je díky konceptu řešení zjevně jednodušší provést měření přímo pomocí přípravku a připojených měřících přístrojů. Dále s ohledem na dosažené výsledky nebyla zřejmě ani nutná simulační šumová optimalizace převodníku proud/napětí. Nicméně to autor mohl v závěru vysvětlit. K práci bych měl i jisté výtky k odbornému a formálnímu zpracování. V malé míře se vyskytují nekorektní formulace, tvrzení a výrazy. Například je uvedeno, že tepelný šum je způsobený tepelným pohybem elektronů v atomech. Pokud nás zajímá šum z pohledu elektrických obvodů tak je spojen s volnými valenčními elektrony, tedy již mimo atomy. Rovnice 2.7 je zavádějící, nevyhovuje ani z rozměrové pohledu přítomných veličin. Matoucí je střídavé použití pojmů pro jednu veličinu kdy spektrální hustota šumového napětí/proudu je často nahrazována nevhodným výrazem napěťová/proudová hustota šumu. Mělo by být sjednoceno na obvykle správně používaný výraz. Nekorektní výraz “závěrné zkreslení” v popisu šumových jevů u Zenerových diod, apod. Z formálního hlediska by bylo možné vytknout některé v textu chybějící popisy některých obrázků nebo veličin v rovnicích. Schémata obvodů by bylo vhodné vkládat do práce v podobě obrázků s bezeztrátovou kompresí nebo alespoň s vyšším rozlišením. Místy se vyskytují gramatické chyby. Přes uvedené výhrady ale hodnotím práci jako velmi kvalitní, s výbornými a unikátními výsledky důležitými pro praxi návrhu a stavby elektronických obvodů. Navrhuji hodnocení 95 bodů.
eVSKP id 167877