VESELÝ, J. Porovnání mikroskopických diagnostických metod [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2012.
Student se ve své práci zabýval porovnáním mikroskopických diagnostických metod a to konkrétně metody transmisní elektronové mikroskopie, rastrovací elektronové mikroskopie a mikroskopie atomárních sil. V teoretické části se student zabývá popisem jednotlivých typů zařízení pro diagnostická pozorování, v praktické části jsou uvedeny postupy měření. Zatímco teoretická část je rozsáhlá, praktická část obsahuje pouze zběžné informace o postupu měření a téměř žádnou diskusi nad naměřenými výsledky, což značně snižuje úroveň práce. Student na bakalářské práci pracoval samostatně a většinu měření prováděl mimo FEKT VUT. Aktivita studenta během roku byla nižší a zvyšovala se až ke konci letního semestru, což se negativně projevilo i na kvalitě zpracování bakalářské práce, zvláště pak její praktické části. I přes uvedené výhrady doporučuji práci k obhajobě a hodnotím ji známkou uspokojivě.
Předložená bakalářská práce se zabývá srovnáním mikroskopických diagnostických metod AFM, TEM a SEM. Práce je členěna do kapitol navazujících na sebe v logickém pořadí. Teoretická část je rozsáhlá což konvenuje se zadáním. Experimentální část zcela postrádá úvodní informace o zvolené metodice řešení a očekávaných výsledcích. Autor se zde stručně věnuje pouze popisu práce s jednotlivými mikroskopy. Z textu experimentální části navíc nebylo možno vyčíst sled jednotlivých diagnostických měření. Z řazení podkapitol vyplývá, že metoda TEM vyžadující značné povrchové úpravy vzorku byla zcela nelogicky zařazena až na závěr. Ve výsledku by to znamenalo, že diagnostická data z TEM není možno z důvodu modifikace povrchu v rámci specifických příprav porovnávat s daty ze SEM a AFM. Diskuze nad výsledky je minimální a závěrečné zhodnocení jen obecné. Práci doporučuji k obhajobě.
eVSKP id 57371