NEUMAN, J. Application of Scanning Probe Microscopy for the Study of Ultrathin Films and Nanostructures [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2015.

Posudek vedoucího

Šikola, Tomáš

viz. spis, knihovna

Posudek oponenta

Rezek, Bohuslav

viz. spis, knihovna

Mašláň, Miroslav

viz. posudek v pdf.

eVSKP id 80657